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Neudatchin, S. V.; 滝塚 知典; Dnestrovskij, Y. N.*; 白井 浩; 藤田 隆明; 諫山 明彦; 鎌田 裕; 小出 芳彦
Proceedings of IAEA 18th Fusion Energy Conference (CD-ROM), 5 Pages, 2001/00
JT-60U中の正磁気シアと負磁気シアのプラズマにおいて、内部障壁と輸送の動的挙動を調べた。その挙動は、各種の速い現象と緩やかな現象の組み合わせから成る。時間的に急速で空間的に巾広い(小半径の30%程度)範囲に亘る、電子とイオンの熱拡散係数の変動が、正シア及び負シアプラズマ中の内部障壁近傍で発生することを明らかにした。この急激な熱拡散係数変動に伴う、内部障壁内の熱パルス伝播を解析することにより、内向きと外向きの伝播ともに拡散的であることを確認し、その拡散係数の値は非常に小さくなっていることを明らかにした。負磁気シアプラズマにおいて、ELMにより誘起されるL-H遷移があるとき、プラズマ周辺の変動が瞬時に内部障壁まで影響を及ぼし急激な熱拡散係数の変動をもたらすことを見いだした。
Neudatchin, S. V.*; 滝塚 知典; 白井 浩; 藤田 隆明; 伊世井 宣明; 諫山 明彦; 小出 芳彦; 鎌田 裕
Plasma Physics and Controlled Fusion, 41(10), p.L39 - L47, 1999/00
被引用回数:17 パーセンタイル:57.89(Physics, Fluids & Plasmas)JT-60Uの負磁気シア放電における内部輸送障壁(ITB)の時間的空間的発展について調べた。ITBの発展は、短時間スケールの現象と長時間スケールの現象との組み合わせから成る。短時間スケールの現象は、電子温度の上昇と下降が、温度不変の領域をはさんだ2領域に同時的(数ms以内)に発生する形で観測される。温度不変領域は安全係数の極少位置近傍にある。この現象は、電子熱拡散係数の時間的に急激な減少の結果である。その現象領域は空間的に広く(プラズマ半径のほぼ0.3)、電子温度の下降領域まで拡がっている。